LIV –高功率激光半导体测试
发光装置测试与表征直击光电技术核心
开发和制造激光二极管的一个重要方面是所谓的激光二极管表征，或 Laser IV曲线。通过增加激光二极管电流使其发光，同时记录光输出与二极管两端的电压降。所得的 LIV 曲线能够展现关于生产质量和激光二极管表现的重要线索，以便决定产品是否合格。
为了测试所有功能组件是否符合规格，ficonTEC提供自动测试机器。激光特征参数将通过LIV测试或直流扫描来进行。与光功率同时测量的参数还包括光输出光谱以及近场和远场特性（以及其他参数）。
测得的数据将被写入SQL数据库，为客户提供必要的数据统计和反馈，以便跟踪和改进产量等。在配备有处理系统的情况下，系统支持全套组件跟踪和分类。
主要功能
-
LIV测试及光束表征
-
单片激光测试，或对整个巴条的并行测试
-
光束特性可与输出功率同时测量
-
所有获取的统计数据均写入SQL数据库文件中
高功率巴条及CoS测试仪器
光束特性的测量
在GELPak上自动取放激光bar条
整个巴条端面检查
-
真空拾取工具处理
-
LIV,光谱以及近场远场测试
-
全自动器件处理
-
易于更换的光学电学探头
-
组件顶端，侧面以及端面检查可选
-
外部测试仪器及测试协议的灵活集成
-
兼容SQL及其他数据库系统，以实现数据可追溯性
