LIV – 高出力レーザーダイオードテスト
フォトニクステクノロジーの中心である
光生成デバイスのテストと特性評価
レーザーダイオードの開発と製造の重要な側面は、いわゆるレーザーダイオードの特性評価、またはレーザーIV曲線です。レーザーダイオードに電流を増やして光を放射することにより、ダイオード素子の電圧降下とともに光出力が測定されます。結果のLIV曲線は、製造の品質とレーザーダイオードの性能に関する重要な手がかりを明らかにし、合格/不合格の判断を可能にします。
全ての機能コンポーネントが仕様を満たしているかどうかをテストする為に、ficonTECは自動化されたテストマシンを提供しています。特徴的なレーザーパラメーターは、LIVまたはDCスイープを実行して測定されます。光パワーと並行して、光出力スペクトルと、近距離および遠距離場の光学特性(他もあり)も測定できます。
ハイブリッドデバイスに電子デバイスとフォトニックデバイスの両方を組み込んだ最新の統合設計は、機能、小型化、大量生産、および一個当たりのコストの面でメリットをもたらします。ただし、これらの大量生産デバイスには、デバイステスト中に多くの課題があり、オンウェーハーおよびオフウェーハーの両方で、より高いレベルの自動化と同様に、高度に並列化された混合信号電気光学テストのコンセプトが必要で、これは、ficonTECがすでに取り組んでいる目標です。
蓄積されたデータはSQLデータベースに書き込まれ、ユーザーに必要な統計分析とフィードバックを提供するため、歩留まりなどを追跡して改善することができます。このシステムでは、ハンドリングシステムが装備されている場合、完全なコンポーネントのトラッキングとソートが可能です。
主な機能
-
LIVテストとビーム特性評価
-
シングルエミッタチップ、またはバー全体の並列テスト
-
光出力と同時に光ビーム特性を測定可能
-
SQLデータベースファイルに書き込まれたすべての取得および統計データ
-
真空ピックアップツールの取り扱い
-
LIV、スペクトルおよび遠距離と近距離場テスト
-
デバイスの全自動処理
-
簡単に変更できる光学および電気プローブヘッド
-
コンポーネントの上面とファセットの検査のオプション
-
外部テスト機器およびテストプロトコルの柔軟な統合
-
データのトレーサビリティのために、SQLおよびその他のデータベースシステムとの互換性